Información sobre los contactos deslizantes dinámicos de la microscopía de fuerza atómica conductora

La fricción en los contactos a nanoescala está determinada por el tamaño y la estructura de la interfaz que está oculta entre los cuerpos en contacto. Un enfoque para investigar los orígenes de la fricción es medir la conductividad eléctrica como un proxy del tamaño y la estructura del contacto. Sin embargo, las relaciones entre contacto, fricción y conductividad no se comprenden completamente, lo que limita la utilidad de tales medidas para interpretar las propiedades dinámicas de deslizamiento.
* En su estudio "Perspectivas sobre contactos deslizantes dinámicos de microscopía de fuerza atómica conductiva", Nicholas Chan, Mohammad R. Vazirisereshk, Ashlie Martini y Philip Egberts utilizaron microscopía de fuerza atómica (AFM) para adquirir simultáneamente imágenes de resolución reticular de la fuerza lateral y el flujo de corriente a través del contacto punta-muestra formado entre una muestra de grafito pirolítico altamente orientado (HOPG) y una sonda AFM de diamante conductora para explorar los mecanismos subyacentes y las correlaciones entre la fricción y la conductividad. Tanto la fuerza actual como la lateral exhibieron fluctuaciones correspondientes a la periodicidad de la red de HOPG.
Inesperadamente, mientras que la fuerza lateral se incrementó durante los eventos de stick-slip atómico, la corriente disminuyó exponencialmente. * Los resultados presentados en el estudio de Nicholas Chan et al. confirman que la correlación entre la conducción y la distancia átomo-átomo propuesta anteriormente para los contactos estacionarios puede extenderse a los contactos deslizantes en el régimen de pegado-deslizamiento.
* Se utilizó una sonda AFM conductora con recubrimiento de diamante NANOSENSORS ™ CDT-CONTR para obtener todos los datos experimentales presentados en su manuscrito. * Figura 1 (a) de "Información sobre contactos deslizantes dinámicos de microscopía de fuerza atómica conductiva" por Nicholas Chan et al: En la Fig. 1 (a) se muestra un esquema de la configuración experimental.
El experimento se llevó a cabo usando un AFM de vacío ultra alto (UHV) a temperatura ambiente a una presión de <1109Torr. Se utilizó un voladizo recubierto de diamante dopado (NANOSENSORS CDT-CONTR) con una constante de resorte de flexión normal de 0,86 N m1 y una constante de resorte lateral de 10 N m1 para obtener todos los datos experimentales presentados en este manuscrito.
* Nicholas Chan, Mohammad R. Vazirisereshk, Ashlie Martini y Philip Egberts Información sobre los contactos deslizantes dinámicos de la microscopía de fuerza atómica conductora Avances a nanoescala., 2020, artículo avanzado DOI: 10.
1039 / d0na00414f Siga este enlace externo para leer el artículo completo: https://pubs.rsc.org/en/content/articlepdf/2020/na/d0na00414f Acceso abierto: el artículo "Información sobre los contactos deslizantes dinámicos de la microscopía de fuerza atómica conductiva" de Nicholas Chan, Mohammad R.
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