Medición directa de la fuerza de adhesión de partículas de aerosol individuales por microscopía de fuerza atómica

En el artículo «Medición directa de la fuerza de adhesión de partículas de aerosol individuales por microscopía de fuerza atómica» Kohei Ono, Yuki Mizushima, Masaki Furuya, Ryota Kunihisa, Nozomu Tsuchiya, Takeshi Fukuma, Ayumi Iwata y Atsushi Matsuki describen un nuevo método, a saber, la fuerza: mapeo de curva de distancia, que se desarrolló para medir directamente la fuerza de adhesión de partículas de aerosol individuales por microscopía de fuerza atómica. * El método propuesto recoge la fuerza de adhesión de múltiples puntos en una sola partícula. También tiene en cuenta la distribución espacial de la fuerza de adhesión afectada por la topografía (p. Ej., La variación en el ángulo de la punta con respecto a la superficie, así como la fuerza impuesta al contacto), lo que permite Medición cuantitativa de la fuerza de adhesión que representa cada partícula. * Los resultados presentados en el artículo destacan que la composición química original, así como el proceso de envejecimiento en la atmósfera, pueden crear una variación significativa en la fuerza de adhesión entre partículas individuales.
Este estudio demuestra que se puede utilizar el mapeo de curvas de fuerza-distancia como una nueva herramienta para caracterizar cuantitativamente las propiedades físicas de las partículas de aerosol de forma individual. * La medición de la fuerza de adhesión descrita en el artículo se realizó en modo de contacto utilizando puntas de silicio NANOSENSORS ™ AdvancedTEC ™ ATEC-CONT AFM. * Figura 2 de «Medición directa de la fuerza de adhesión de partículas de aerosol individuales por microscopía de fuerza atómica» por Kohei Ono et al: Imagen magnética de microscopía de fuerza atómica (AFM) (a), mapeo de pendiente (b) y mapeo de fuerza de adhesión (c) obtenida de la misma partícula PSL de 1 μm.
Se muestran curvas representativas de fuerza-distancia para el punto en el que la punta está correctamente en contacto con la superficie con suficiente carrera (fuerza de carga), en el ángulo apropiado (d) y para el punto más hacia el borde donde la punta apenas toca la superficie en un ángulo pronunciado (e). Las líneas negras en los paneles (d) y (e) muestran la línea de base en la cual la punta no tocó la partícula o sustrato. En el panel (f) se muestra una gráfica de la relación entre la pendiente y la fuerza de adhesión.
Se considera que las gráficas en el área sombreada representan la fuerza de adhesión de la partícula. * Kohei Ono, Yuki Mizushima, Masaki Furuya, Ryota Kunihisa, Nozomu Tsuchiya, Takeshi Fukuma, Ayumi Iwata y Atsushi Matsuki Medición directa de la fuerza de adhesión de partículas de aerosol individuales por microscopía de fuerza atómica Ambiente 2020, 11 (5), 489 DOI: https://doi.org/10.
3390 / atmos11050489 Siga este enlace externo para leer el artículo completo: https://www.mdpi.com/2073-4433/11/5/489/ htm Acceso abierto: el artículo "Medición directa de la fuerza de adhesión de partículas de aerosol individuales por microscopía de fuerza atómica" por Kohei Ono, Yuki Mizushima, Masaki Furuya, Ryota Kunihisa, Nozomu Tsuchiya, Takeshi Fukuma, Ayumi Iwata y Atsushi Matsuki está bajo una licencia Creative Commons Atribución 4.
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